Now showing items 1-12 of 12
-
Liu, J.; Zhang, Xinlian; Chen, T.; Wu, T.; Lin, T.; Jiang, L.; Lang, S.; Liu, L.; Natarajan, L.; Tu, J.X.; Kosciolek, T.; Morton, J.; Nguyen, T.T.; Schnabl, B.; Knight, R.; Feng, C.; Zhong, Y.; Tu, X.M. (Springer Publishing CompanyWiley Periodicals, Inc., 2022-09)
-
Liu, J.; Jin, Taocong; Chang, S-X.; Czajka-Jakubowska, Agata; Clarkson, B. H. (Wiley Subscription Services, Inc., A Wiley Company, 2011-03-01)
-
Yee, Albert F.; Merenga, A. S.; Papadakis, Constantine; Kremer, F.; Liu, J. (Springer-Verlag; Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 2001-11)
-
Sarwal, M. M.; Ettenger, R. B.; Dharnidharka, V.; Benfield, M.; Mathias, R.; Portale, A.; McDonald, R.; Harmon, W.; Kershaw, D.; Vehaskari, V. M.; Kamil, E.; Baluarte, H. J.; Warady, B.; Tang, L.; Liu, J.; Li, L.; Naesens, M.; Sigdel, T.; Waskerwitz, Janie; Salvatierra, O. (Blackwell Publishing IncWiley Periodicals, Inc., 2012-10)
-
Byrne, B.; Liu, J.; Bloom, A. A.; Bowman, K. W.; Butterfield, Z.; Joiner, J.; Keenan, T. F.; Keppel‐aleks, G.; Parazoo, N. C.; Yin, Y. (Wiley Periodicals, Inc.Springer, 2020-11)
-
Chang, Zenghu; Rundquist, Andy; Zhou, J.; Murnane, Margaret M.; Kapteyn, Henry C.; Liu, X.; Shan, B.; Liu, J.; Niu, L.; Gong, M.; Zhang, X. (The American Institute of Physics, 1996-07-01)
-
Wang, E.; Nam, H. K.; Liu, J.; Hatch, N. E. (Chapman & Hall/CRCWiley Periodicals, Inc., 2015-04)
-
Ma, X.; Tian, A. M.; Shi, Q. Q.; Bai, S. C.; Yao, S. T.; Shen, X. C.; Sun, W. J.; Guo, R. L.; Nowada, M.; Degeling, A. W.; Liu, J.; Li, L.; Zhang, S.; Li, W. (Wiley Periodicals, Inc., 2021-11-28)
-
Xue, S.; Mutesi, R.; Rong, M.; Liu, J. (Wiley Periodicals, Inc., 2013-10)
-
Song, J.; Zenteno, A.; Stalder, B.; Desai, S.; Bleem, L. E.; Aird, K. A.; Armstrong, R.; Ashby, M. L. N.; Bayliss, M.; Bazin, G.; Benson, B. A.; Bertin, E.; Brodwin, M.; Carlstrom, J. E.; Chang, C. L.; Cho, H. M.; Clocchiatti, A.; Crawford, T. M.; Crites, A. T.; Haan, T. de; Dobbs, M. A.; Dudley, J. P.; Foley, R. J.; George, E. M.; Gettings, D.; Gladders, M. D.; Gonzalez, A. H.; Halverson, N. W.; Harrington, N. L.; High, F. W.; Holder, G. P.; Holzapfel, W. L.; Hoover, S.; Hrubes, J. D.; Joy, M.; Keisler, R.; Knox, L.; Lee, A. T.; Leitch, E. M.; Liu, J.; Lueker, M.; Luong-Van, D.; Marrone, D. P.; McDonald, M.; McMahon, J. J.; Mehl, J.; Meyer, S. S.; Mocanu, L.; Mohr, Joseph J.; Montroy, T. E.; Natoli, T.; Nurgaliev, D.; Padin, S.; Plagge, T.; Pryke, C.; Reichardt, C. L.; Rest, A.; Ruel, J.; Ruhl, J. E.; Saliwanchik, B. R.; Saro, A.; Sayre, J. T.; Schaffer, K. K.; Shaw, L.; Shirokoff, E.; Šuhada, R.; Spieler, H. G.; Stanford, S. Adam; Staniszewski, Z.; Stark, A. A.; Story, K.; Stubbs, C. W.; van Engelen, A.; Vanderlinde, K.; Vieira, J. D.; Williamson, R.; Zahn, O. (IOP Publishing, 2012)
-
Bentley, P.; Clarkson, B. H.; Liu, J.; Chen, H.; Wood, D.; Chang, S. (Springer-Verlag; Springer Science+Business Media, Inc., 2006-01)
-
Liu, Yi‐hsin; Li, T. C.; Hesse, M.; Sun, W. J.; Liu, J.; Burch, J.; Slavin, J. A.; Huang, K. (John Wiley, 2019-04)