Rangan, L. K.; Price, L. E.; Thun, R.; Kooijman, P.; Abachi, S.; Baringer, P.; Loos, J. S.; Shibata, E. I.; Brabson, B.; Brom, J. -M.; Blockus, D.; Valdata-Nappi, M.; Meyer, D. I.; Tschirhart, Robert S.; Low, E. H.; Gan, K. K.; Bylsma, B. G.; Koltick, D. S.; Derrick, M.; de Bonte, R.; Miller, D. H.; Loeffler, F. J.; Musgrave, B.; Sugano, K.; Repond, J.; Errede, D.; Cork, Bruce; Ogren, H.; Jung, C.; Akerlof, Carl W.; Rust, D. R.; Chapman, Jay W.; Ng, C. R.; Nitz, Dave F.; Ken, M. T.; McIlwain, R. L.(Springer-Verlag, 1987-09)
Abachi, S.; Akerlof, Carl W.; Baringer, P.; Blockus, D.; Brabson, B.; Brom, J. -M.; Bylsma, B. G.; Chapman, J.; Cork, Bruce; Debonte, D. R.; Derrick, M.; Errede, D.; Jung, C.; Ken, M. T.; Koltick, D. S.; Kooijman, P.; Loos, J. S.; Low, E. H.; McIlwain, D, R. L.; Meyer, D. I.; Miller, D. H.; Musgrave, B.; Ng, C. R.; Nitz, Dave F.; Ogren, H.; Price, L. E.; Repond, J.; Rust, D. R.; Shibata, E. I.; Snyder, A.; Sugano, K.; Thun, R.; Tschirhart, Robert S.(Blackwell Publishing Ltd, 1988-07)
Limited access: U-M users only
Access by request
Access via HathiTrust
Access via Fulcrum
(423.8KB)