Now showing items 1-8 of 8
-
Sarosiek, I.; Selover, K. H.; Katz, L. A.; Semler, J. R.; Wilding, G. E.; Lackner, J. M.; Sitrin, M. D.; Kuo, B.; Chey, William D.; Hasler, William L.; Koch, K. L.; Parkman, Henry P.; Sarosiek, I.; McCallum, Richard W. (Blackwell Publishing Ltd, 2010-01)
-
Bernard, C. E.; Gibbons, S. J.; Mann, I. S.; Froschauer, L.; Parkman, H. P.; Harbison, S.; Abell, T. L.; Snape, W. J.; Hasler, W. L.; McCallum, R. W.; Sarosiek, I.; Nguyen, L. A. B.; Koch, K. L.; Tonascia, J.; Hamilton, F. A.; Kendrick, M. L.; Shen, K. R.; Pasricha, P. J.; Farrugia, G. (Wiley Periodicals, Inc., 2014-09)
-
Koch, K. L.; Hasler, W. L.; Yates, K. P.; Parkman, H. P.; Pasricha, P. J.; Calles‐escandon, J.; Snape, W. J.; Abell, T. L.; McCallum, R. W.; Nguyen, L. A.; Sarosiek, I.; Farrugia, G.; Tonascia, J.; Lee, L.; Miriel, L.; Hamilton, F. (Wiley Periodicals, Inc.Consulting Psychologists Press, 2016-07)
-
Grover, M.; Bernard, C. E.; Pasricha, P. J.; Parkman, H. P.; Gibbons, S. J.; Tonascia, J.; Koch, K. L.; McCallum, R. W.; Sarosiek, I.; Hasler, W. L.; Nguyen, L. A. B.; Abell, T. L.; Snape, W. J.; Kendrick, M. L.; Kellogg, T. A.; McKenzie, T. J.; Hamilton, F. A.; Farrugia, G. (Wiley Periodicals, Inc., 2017-06)
-
Parkman, H. P.; Hallinan, E. K.; Hasler, W. L.; Farrugia, G.; Koch, K. L.; Nguyen, L.; Snape, W. J.; Abell, T. L.; McCallum, R. W.; Sarosiek, I.; Pasricha, P. J.; Clarke, J.; Miriel, L.; Tonascia, J.; Hamilton, F. (Food and Drug Administration Center for Drug Evaluation and Research (CDER)Wiley Periodicals, Inc., 2017-04)
-
Hasler, W. L.; Wilson, L. A.; Parkman, H. P.; Koch, K. L.; Abell, T. L.; Nguyen, L.; Pasricha, P. J.; Snape, W. J.; McCallum, R. W.; Sarosiek, I.; Farrugia, G.; Calles, J.; Lee, L.; Tonascia, J.; Unalp‐arida, A.; Hamilton, F. (Wiley Periodicals, Inc.Consulting Psychologists Press, 2013-05)
-
Parkman, H. P.; Hallinan, E. K.; Hasler, W. L.; Farrugia, G.; Koch, K. L.; Calles, J.; Snape, W. J.; Abell, T. L.; Sarosiek, I.; McCallum, R. W.; Nguyen, L.; Pasricha, P. J.; Clarke, J.; Miriel, L.; Lee, L.; Tonascia, J.; Hamilton, F. (QualityMetric IncorporatedWiley Periodicals, Inc., 2016-12)
-
Hasler, W. L.; May, K. P.; Wilson, L. A.; Van Natta, M.; Parkman, H. P.; Pasricha, P. J.; Koch, K. L.; Abell, T. L.; McCallum, R. W.; Nguyen, L. A.; Snape, W. J.; Sarosiek, I.; Clarke, J. O.; Farrugia, G.; Calles‐escandon, J.; Grover, M.; Tonascia, J.; Lee, L. A.; Miriel, L.; Hamilton, F. A.; Kim, Yale (Wiley Periodicals, Inc., 2018-02)