Hino, Y.; Ajimura, S.; Cheoun, M. K.; Choi, J. H.; Dodo, T.; Furuta, H.; Goh, J.; Haga, K.; Harada, M.; Hasegawa, S.; Hiraiwa, T.; Hwang, W.; Jang, H. I.; Jang, J. S.; Jeon, H.; Jeon, S.; Joo, K. K.; Jordan, J. R.; Jung, D. E.; Kang, S. K.; Kasugai, Y.; Kawasaki, T.; Kim, E. J.; Kim, J. Y.; Kim, S. B.; Kim, W.; Kinoshita, H.; Konno, T.; Lee, C. Y.; Lee, D. H.; Lee, S.; Lim, I. T.; Little, C.; Marzec, E.; Maruyama, T.; Masuda, S.; Meigo, S.; Monjushiro, S.; Moon, D. H.; Nakano, T.; Niiyama, M.; Nishikawa, K.; Nomachi, M.; Pac, M. Y.; Park, J. S.; Park, R. G.; Peeters, S. J. M.; Ray, H.; Rott, C.; Sakai, K.; Sakamoto, S.; Shima, T.; Shin, C. D.; Spitz, J.; Suekane, F.; Sugaya, Y.; Suzuya, K.; Taira, M.; Ujiie, R.; Yamaguchi, Y.; Yeh, M.; Yeo, I. S.; Yoo, C.; Yu, I. (2022-04-17)
Limited access: U-M users only
Access by request
Access via HathiTrust
Access via Fulcrum
(415.6KB)