Now showing items 1-3 of 3
-
Grover, M.; Bernard, C. E.; Pasricha, P. J.; Lurken, M. S.; Faussone‐pellegrini, M. S.; Smyrk, T. C.; Parkman, H. P.; Abell, T. L.; Snape, W. J.; Hasler, W. L.; McCallum, R. W.; Nguyen, L.; Koch, K. L.; Calles, J.; Lee, L.; Tonascia, J.; Ünalp‐arida, A.; Hamilton, F. A.; Farrugia, G. (Blackwell Publishing LtdWiley Periodicals, Inc., 2012-06)
-
Hasler, W. L.; Wilson, L. A.; Parkman, H. P.; Koch, K. L.; Abell, T. L.; Nguyen, L.; Pasricha, P. J.; Snape, W. J.; McCallum, R. W.; Sarosiek, I.; Farrugia, G.; Calles, J.; Lee, L.; Tonascia, J.; Unalp‐arida, A.; Hamilton, F. (Wiley Periodicals, Inc.Consulting Psychologists Press, 2013-05)
-
Parkman, H. P.; Hallinan, E. K.; Hasler, W. L.; Farrugia, G.; Koch, K. L.; Calles, J.; Snape, W. J.; Abell, T. L.; Sarosiek, I.; McCallum, R. W.; Nguyen, L.; Pasricha, P. J.; Clarke, J.; Miriel, L.; Lee, L.; Tonascia, J.; Hamilton, F. (QualityMetric IncorporatedWiley Periodicals, Inc., 2016-12)