Abbott, B.; Abbott, R.; Adhikari, R.; Agresti, J.; Ajith, P.; Allen, B.; Allen, J.; Amin, R.; Anderson, S. B.; Anderson, W. G.; Araya, M.; Armandula, H.; Ashley, M.; Aulbert, C.; Babak, S.; Balasubramanian, R.; Ballmer, S.; Bantilan, H.; Barish, B. C.; Barker, C.; Barker, D.; Barton, M. A.; Bayer, K.; Belczynski, K.; Betzwieser, J.; Bhawal, B.; Bilenko, I. A.; Billingsley, G.; Black, E.; Blackburn, K.; Blackburn, L.; Bland, B.; Bogue, L.; Bork, R.; Bose, S.; Brady, P. R.; Braginsky, V. B.; Brau, J. E.; Brown, D. A.; Buonanno, A.; Busby, D.; Butler, W. E.; Cadonati, L.; Cagnoli, G.; Camp, J. B.; Cannizzo, J.; Cannon, K.; Cao, J.; Cardenas, L.; Carter, K.; Casey, M. M.; Charlton, P.; Chatterji, S.; Chen, Y.; Chin, D.; Christensen, N.; Cokelaer, T.; Colacino, C. N.; Coldwell, R.; Cook, D.; Corbitt, T.; Coyne, D.; Creighton, J. D. E.; Creighton, T. D.; Dalrymple, J.; D'Ambrosio, E.; Danzmann, K.; Davies, G.; DeBra, D.; Dergachev, Vladimir; Desai, S.; DeSalvo, R.; Dhurandar, S.; Díaz, M.; Di Credico, A.; Drever, R. W. P.; Dupuis, R. J.; Ehrens, P; Etzel, T.; Evans, M.; Evans, T.; Fairhurst, S.; Finn, L. S.; Franzen, K. Y.; Frey, Ray; Fritschel, P.; Frolov, V. V.; Fyffe, M.; Ganezer, K. S.; Garofoli, J.; Gholami, I.; Giaime, J. A.; Goda, K.; Goggin, L. M.; González, G.; Gray, C.; Gretarsson, A. M.; Grimmett, D.; Grote, H.; Grunewald, S.; Guenther, M.; Gustafson, R.; Hamilton, W. O.; Hanna, C.; Hanson, J.; Hardham, C.; Harry, G.; Heefner, J.; Heng, I. S.; Hewitson, M.; Hindman, N.; Hoang, P.; Hough, J.; Hua, W.; Ito, M.; Itoh, Y.; Ivanov, A.; Johnson, B.; Johnson, W. W.; Jones, D. I.; Jones, G.; Jones, L.; Kalogera, V.; Katsavounidis, E.; Kawabe, K.; Kawamura, S.; Kells, W.; Khan, A.; Kim, C.; King, P.; Klimenko, S.; Koranda, S.; Kozak, D.; Krishnan, B.; Landry, M.; Lantz, B.; Lazzarini, A.; Lei, M.; Leonor, I.; Libbrecht, K.; Lindquist, P.; Liu, S.; Lormand, M.; Lubinski, M.; Lück, H.; Luna, M.; Machenschalk, B.; MacInnis, M.; Mageswaran, M.; Mailand, K.; Malec, M.; Mandic, V.; Márka, S.; Maros, E.; Mason, K.; Matone, L.; Mavalvala, N.; McCarthy, R.; McClelland, D. E.; McHugh, M.; McNabb, J. W. C.; Melissinos, A.; Mendell, G.; Mercer, R. A.; Meshkov, S.; Messaritaki, E.; Messenger, C. J.; Mikhailov, E.; Mitra, S.; Mitrofanov, V. P.; Mitselmakher, G.; Mittleman, R.; Miyakawa, O.; Mohanty, S.; Moreno, G.; Mossavi, K.; Mueller, G.; Mukherjee, S.; Myers, E.; Myers, J.; Nash, T.; Nocera, F.; Noel, J. S.; O'Reilly, B.; O'Shaughnessy, R.; Ottaway, D. J.; Overmier, H.; Owen, B. J.; Pan, Y.; Papa, M. A.; Parameshwaraiah, V.; Parameswariah, C.; Pedraza, M.; Penn, S.; Pitkin, M.; Prix, R.; Quetschke, V.; Raab, F.; Radkins, H.; Rahkola, R.; Rakhmanov, M.; Rawlins, K.; Ray-Majumder, S.; Re, V.; Regimbau, T.; Reitze, D. H.; Riesen, R.; Riles, Keith; Rivera, B.; Robertson, D. I.; Robertson, N. A.; Robinson, C.; Roddy, S.; Rodriguez, A.; Rollins, J.; Romano, J. D.; Romie, J.; Rowan, S.; Rüdiger, A.; Ruet, L.; Russell, P.; Ryan, K.; Sandberg, V.; Sanders, G. H.; Sannibale, V.; Sarin, P.; Sathyaprakash, B. S.; Saulson, P. R.; Savage, R. L.; Sazonov, A.; Schilling, R.; Schofield, R.; Schutz, B. F.; Schwinberg, P.; Scott, S. M.; Seader, S. E.; Searle, A. C.; Sears, B.; Sellers, D.; Sengupta, A. S.; Shawhan, P.; Shoemaker, D. H.; Sibley, A.; Siemens, X.; Sigg, D.; Sintes, A. M.; Smith, J.; Smith, M. R.; Spjeld, O.; Strain, K. A.; Strom, D. M.; Stuver, A.; Summerscales, T. Z.; Sung, M.; Sutton, P. J.; Tanner, D. B.; Tarallo, M.; Taylor, R.; Thorne, K. A.; Thorne, K. S.; Tokmakov, K. V.; Torres, C.; Torrie, C.; Traylor, G.; Tyler, W.; Ugolini, D.; Ungarelli, C.; Vallisneri, M.; van Putten, M.; Vass, S.; Vecchio, A.; Veitch, J.; Vorvick, C.; Vyachanin, S. P.; Wallace, L.; Ward, H.; Ward, R. J.; Watts, K.; Webber, D.; Weiland, U.; Weinstein, A.; Weiss, R.; Wen, S.; Wette, K.; Whelan, J. T.; Whitcomb, S. E.; Whiting, B. F.; Wiley, S.; Wilkinson, C.; Willems, P. A.; Willke, B.; Wilson, A.; Winkler, W.; Wise, S.; Wiseman, A. G.; Woan, G.; Woods, D.; Wooley, R.; Worden, J.; Yakushin, I.; Yamamoto, H.; Yoshida, S.; Zanolin, M.; Zhang, L.; Zotov, N.; Zucker, M.; Zweizig, J. (IOP Publishing Ltd, 2006-04-21)
Limited access: U-M users only
Access by request
Access via HathiTrust
Access via Fulcrum
(1.4MB)